BS QC 750100-1986+A2-1996 电子元器件用质量评估的协调体系.离散半导体器件.分规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 15:56:56  浏览:8910   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Discretesemiconductordevices-Sectionalspecification
【原文标准名称】:电子元器件用质量评估的协调体系.离散半导体器件.分规范
【标准号】:BSQC750100-1986+A2-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1986-12-31
【实施或试行日期】:1986-12-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;作标记;测量;测量方法;质量;质量评定;质量评定系统;分规范;半导体器件;半导体;规范(验收);规范;试验
【英文主题词】:Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Marking;Measurement;Methodsformeasuring;Quality;Qualityassessment;Qualityassessmentsystems;Sectionalspecification;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Specifications;Testing
【摘要】:Thissectionalspecificationappliestodiscretesemiconductordevices,excludingopto-electronicdevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:英语