NF C96-022-31-2003 半导体装置.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封装置的易燃性(内部引起的)
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 10:08:42 浏览:9167
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part31:flammabilityofplastic-encapsulateddevices(internallyinduced).
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封装置的易燃性(内部引起的)
【标准号】:NFC96-022-31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-11-01
【实施或试行日期】:2003-11-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐力;电子工程;集成电路;试验;外观检查(试验);半导体器件;易燃性;热学;元部件;电子设备及元件;气候试验;温度变化;电学测量;环境试验;机械试验;电气工程;半导体
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:13_220_40;31_080_01
【页数】:6P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封装置的易燃性(内部引起的)
【标准号】:NFC96-022-31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-11-01
【实施或试行日期】:2003-11-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐力;电子工程;集成电路;试验;外观检查(试验);半导体器件;易燃性;热学;元部件;电子设备及元件;气候试验;温度变化;电学测量;环境试验;机械试验;电气工程;半导体
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:13_220_40;31_080_01
【页数】:6P;A4
【正文语种】:其他
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