BS EN 60747-16-10-2004 半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)
作者:标准资料网 时间:2024-04-27 01:42:24 浏览:9533
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-TechnologyApprovalSchedule(TAS)formonolithicmicrowaveintegratedcircuits
【原文标准名称】:半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)
【标准号】:BSEN60747-16-10-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-11-09
【实施或试行日期】:2004-11-09
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:ThisTASspecifiestheterms,definitions,symbols,qualitysystem,test,assessmentandverificationmethodsandotherrequirementsrelevanttothedesign,manufactureandsupplyofmonolithicmicrowaveintegratedcircuitsincompliancewiththegeneralrequirementsoftheIECQ-CECCSystemforelectroniccomponentsofassessedquality.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:58P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)
【标准号】:BSEN60747-16-10-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-11-09
【实施或试行日期】:2004-11-09
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:ThisTASspecifiestheterms,definitions,symbols,qualitysystem,test,assessmentandverificationmethodsandotherrequirementsrelevanttothedesign,manufactureandsupplyofmonolithicmicrowaveintegratedcircuitsincompliancewiththegeneralrequirementsoftheIECQ-CECCSystemforelectroniccomponentsofassessedquality.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:58P;A4
【正文语种】:英语
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