ISO/TS 21432 Technical Corrigendum 1-2008 无损检测.使用中子衍射测定残余应力的标准试验方法.技术勘误表1

作者:标准资料网时间:2024-05-19 02:47:13 浏览:8052 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Non-destructivetesting-Standardtestmethodfordeterminingresidualstressesbyneutrondiffraction;TechnicalCorrigendum1
【原文标准名称】:无损检测.使用中子衍射测定残余应力的标准试验方法.技术勘误表1
【标准号】:ISO/TS21432TechnicalCorrigendum1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2008-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC135
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:结晶体;弹性(流体);延伸;膨胀;材料;材料测试;测量;测量技术;中子衍射;无损检验;残余应力;试样;测试
【英文主题词】:Crystalline;Definitions;Elasticproperties(fluids);Elongation;Expansions;Materials;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Neutrondiffraction;Non-destructivetesting;Residualstresses;Testspecimens;Testing
【摘要】:ThestandardisaboutNon-destructivetesting-Standardtestmethodfordeterminingresidualstressesbyneutrondiffraction;TechnicalCorrigendum1
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:19_100
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语

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标准名称：	电瓷材料第二部分:试验方法
英文名称：	Porcelain insulating material for electrical applications-Part 2:Test methods
中标分类：
ICS分类：	电气工程 >> 绝缘流体 >> 绝缘气体
替代情况：	被GB/T 8411.2-2008代替
发布部门：	中国电器工业协会
发布日期：	1987-12-16
实施日期：	1988-10-01
首发日期：	1987-12-16
作废日期：	2009-04-01
主管部门：	中国电器工业协会
提出单位：	西安电瓷研究所
归口单位：	全国绝缘子标准化技术委员会
起草单位：	西安电瓷研究所
起草人：	徐如恬
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	1988-10-01
页数：	11页